Главная » Каталог документов » ГОСТ 27694-88

ГОСТ 27694-88
"Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров"

- 481,00 руб.;
- Официальное издание;
- Доставка или cамовывоз.
- от 95,00 руб./день;
- Мгновенное подключение;
- Различные формы оплаты.
- от 8 790,00 руб.;
- Тысячи (!) документов на DVD;
- Ежеквартальное обновление.

Статус документа: действующий

Дата вступления в действие: 1990-01-01


Документ относится к следующим разделам классификатора:

Нормативно-технические документы. Национальные стандарты
Электроника
Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160


Содержание для ознакомления



ВНИМАНИЕ!!
ФРАГМЕНТ ТЕКСТА ДОКУМЕНТА ПРЕДСТАВЛЕН ИСКЛЮЧИТЕЛЬНО ДЛЯ ОЗНАКОМЛЕНИЯ И СОДЕРЖИТ ОШИБКИ
ОРИГИНАЛ ДОКУМЕНТА СООТВЕТСТВУЕТ ОФИЦИАЛЬНОМУ ИЗДАНИЮ

ГОСТ 27694-88

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ

УСИЛИТЕЛИ НИЗКОЙ, ПРОМЕЖУТОЧНОЙ и высокой ЧАСТОТЫ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

Издание официальное

ИНК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТА11ДАРТОВ Москва
УДК 621.049.77.001.4:006.354 Группа Э29

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

Микросхемы интегральные

УС ИДИТЕ,'! И НИЗКОЙ, ПРОМЕЖУТОЧНОЙ

И ВЫСОКОЙ ЧАСТОТЫ ГОСТ

Методы измерения электрических параметров 27694 88

Integrated circuits. Low-, intermediate- and high-frequency amplifiers. Methods of measuring electric parameters

ОКП62 3100

Дата введения 01.01.90

Настоящий стандарт распространяется на усилители низкой, промежуточной и высокой частоты (далее — микросхемы) и устанашшвасг ТРЕБОВАНИЯ для методов измерения электрических параметров. Термины и определения — по ГОСТ 19480.

Соответствие настоящего стандарта СТ СЭВ 1622—79 и СТСЭВ 3411—XI приведено в приложении I.

I. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

I. I. Ус л о в и я и режим измерения

1.1.1. Электрические параметры следует измерять в НОРМАльных климатических условиях по ГОСТ 20.57.406 или в условиях, установленных в стандартах или технических условиях (далее — ТУ) на микросхемы конкретных типов.

1.1.2. Режимы измерений электрических параметров микросхем должны соответствовать установленным в стандартах нлн ТУ на микросхемы конкретных типов.

1.1.3. Погрешность установления и поддержания параметров режима питания микросхем при измерении должна находиться в пределах ±5 %. Нестабильность источников питания, вызванная изменением напряжения сети и температурой окружающей среды, должна быть в пределах ±1 % ятя источников постоянного тока и ±2 % — дтя источников переменного и импульсного токов.

1.1.4. Электрические параметры микросхем измеряют в установившемся статическом, динамическом и тепловом режимах работы. Время между отдельными измерениями должно быть минимальным.

1. 1.5. Во время проведения измерений предельное отклонение установленной температуры окружающей среды должно быть в пределах ±2 "С.

1.1.6. Границы интервала погрешности методов измерения должны находиться в пределах: ±10 % — для измерения в статическом режиме; +20 % » - - динамическом • 1.2. Аппаратура

1.2.1. Средства измерения должны соответствовать ТРЕБОВАНИЯм ГОСТ 22261. а также ТРЕБОВАНИЯм, установленным в настоящем стандарте. (Измененная редакция, Изм. № 2).

Издание официальное Перепечатка воспрещена

*

<- И щательство стандартов, 1988 © ИПК Издательство стандартов. 1999 Переиздание с Изменениями
С. I ГОСТ 27694-88

1.2.2. Частотный диапазон приборов должен соответствовать частотному диапазону измеряемых микросхем или быть шире. При необходимости ТРЕБОВАНИЯ к частотному диапазону приборов должны быть УКАЗаны в.методах измерения конкретных параметров микросхем.

1.2.3. В измерительных установках места подключения измерительных приборов дня контроля параметров режима могут отличаться от УКАЗанных иа структурных СХЕМАх. При этом погрешность установления и поддержания режимов не должна выходить за установленные пределы.

1.2.4. В измерительных установках приборы для измерения параметров режима могут отсутствовать, если обеспечена требуемая точность установления и полдержания режима. Допускается применять в ншерительных установках дополнительные измерительные приборы и сигнальные устройства. При этом погрешность измерения параметров микросхем не должна выходить за установленные пределы.

1.2.5. Полное входное сопротивление измерительных приборов должно превышать полное сопротивление микросхем между точками их подключения не менее чем в 100 раз или должно быть учтено при определении значения нагрузки или погрешности измерения.

1.2.6. Резисторы, значение сопротивления которых влияет иа результат измерений, должны иметь допуск не более 1 %. Конденсаторы, значение емкости которых влияет на результат измерений, должны иметь допуск не более 5 %.

1.2.7. Для зашиты микросхем от перегрузок, возникающих пол действием переходных процессов, статического электричества и параштного самовозбуждения, измерительные установки доданы быть снабжены устройствами защиты, исключающими возможность превышения предельно допустимых электрических режимов, установленных в ТУ иа микросхемы конкретных типов.

Применение защитных устройглв не должно приводить к увеличению погрешности измерений.

1.2.8. ХарАКТер и значение нагрузки, СХЕМА подключения нагрузки доданы соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов. Допустимое отклонение сопротивления нагрузки не должно превышать I %.

1.2.9. ХарАКТер и значение элементов измерительной схемы (схемы включении микросхемы) должны соответствовать установленным в ТУ иа микросхемы конкретных типов.

1.2.10. КонтАКТирующие устройства измерительных установок должны обеспечивать надежное электрическое подключение микросхем, исключающее механическое повреждение выводов.

1.2.11. Прн измерениях электрических параметров микросхем на высокой частоте атияние реАКТивных составляющих элементов (резисторов, конденсаторов, монтажных проводов, кабелей, контАКТирующих устройств, переключателей и т. п.) должно быть таким, чтобы оно прАКТически не сказывалось на погрешности измерения параметров микросхем или должно быть учтено при РАСЧЕТе показателей точности измерений.

1.3. ТРЕБОВАНИЯ безопасности

1.3.1. Измерение ъзеклрических параметров микросхем относится к работам по управлению электроустановками с напряжением ло 1000 В.

1.3.2. Измерительные установки при эксплуатации должны соответствовать ТРЕБОВАНИЯм ГОСТ 22261. ГОСТ 12.1.019. ГОСТ 12.1.030. ГОСТ 12.2.003 и ГОСТ 12.3.019.

1.3.3. Силовые трансФОРМАторы измерительных установок должны соответствовать ТРЕБОВАНИЯм ГОСТ 12.2.007.2.

1.3.4. К измерениям электрических параметров микросхем допускаются операторы, прошедшие специальную подготовку и имеющие допуск к УКАЗанным работам.

1.3.5. В целях обеспечения безопасности труда при выполнении измерений электрических параметров микросхем необходимо предусмотреть:

- защиту изоляции наружной электропроводки измерительных установок от механических, химических и ТЕРМических повреждений;

- наличке и надежность заземления элементов схемы установок:

- защиту коитАКТнруюушнх приспособлений для подключения микросхем, исключающую возможность прикасания оператора к токоведущим частям установок.
ГОСТ 27694-88 С. 3

2. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАПАЗОНА АВТОМАТИЧЕСКОЙ РЕГУЛИРОВКИ УСИЛЕНИЯ

2.1. Для микросхем без схемы управления измерение диапазона автоматической регулировки усиления по напряжению (далее — АРУ) проводят по методу 1. для микросхем со схемой управления — по методу 2.

2.2. М етод I 2.2.1. Аппаратура

2.2.1.1. Измерения проводят на установке, электрическая структурная СХЕМА которой приведена на черт. I.

Измеритель переменного напряжения

Генератор


Источник


питаний

Ми крое к ем а со схемой включения

Измеритель переменного напряжения

Черт.

(Измененная редакция, Изм. № 2).

2.2.1.2. Генератор сигналов должен обеспечивать установление и поддержание напряжения на входе микросхемы с погрешностью в пределах ±3%. Погрешность установления частоты должна быть в пределах ± I Коэффициент гармоник должен быть в пределах ±5 %.

2.2.1.3. Погрешность измерителей переменного напряжения должна быть в пределах ±5 %.

2.2.2. Подготовка и проведение измерений

2.2.2.1. Усталантивают напряжение питания микросхемы, значение которого установлено в ТУ на микросхемы конкретных пшов.

2.2.2.2. На вход микросхемы подают анналы I и 0Г, соответствующие минимальному и мак-симальному значению напряжения. Значение напряжения, частота (количество контролируемых точек) и условия выбора сигналов Vu, Ц, установлены в ТУ на микросхемы конкретных типов.

2.2.2.3. Измеряют выходные напряжения Vm и Vli2 микросхемы.

2.2.3. Обработка результатов

Диапазон АРУ (ACQ вычисляют по формуле

AGC =

Ч.' го

'и пи»

где Av (|Ы1 — максимальный коэффициогт усилении напряжения

-=ОКОНЧАНИЕ ФРАГМЕНТА ДОКУМЕНТА=-

Документ ГОСТ 27694-88 можно получить тремя способами:

Приобрести полный комплект актуальных документов в виде электронного справочника на DVD. Мы предлагаем специализированные справочники для разных отраслей хозяйственной деятельности.

Так же, можно скачать ГОСТ 27694-88 или любой другой документ очень быстро и за смешные деньги, с оплатой любым способом (электронными деньгами, безналичным расчетом, отправкой SMS).

Если требуется официальное издание, то можно купить ГОСТ 27694-88 - печатную форму документа для технических библиотек и лицензирования деятельности предприятия.